(20) 走査型電子顕微鏡(SEM)観察

概要

走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;略してSEM)は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示することによって対象物の拡大像などを得る装置です。像質が落ちるため高倍率観察には向きませんが、低真空モードを使い、難電導性試料の無蒸着観察も可能です。

適用対象

観察項目

適用例

保有機器の主な仕様

SEM
分解能;3 nm、加速電圧;0.3~30 kV、観察倍率;5~300,000倍
EDS
分析元素;Be~U


お問い合わせ

お気軽に下記よりお問い合わせください。

受付時間:9時~17時 ※土日祝日および弊社休業日を除く

溶接研修・検定試験・資格取得

Webからのお問い合わせ

溶接試験・調査

Webからのお問い合わせ

上記以外のお問い合わせ

Webからのお問い合わせ

top