(27) 透過型電子顕微鏡(TEM)観察

概要

透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope;略してTEM)は、高い加速電圧の電子線を試料に照射し、試料を透過した電子線を電磁レンズで拡大することによって透過電子像や電子線回折像を得ます。透過電子像では結晶粒界、欠陥、ひずみ、析出物の有無などが観察でき、電子線回折像からは結晶性物質の同定や結晶方位の解析ができます。

適用対象

観察項目

適用例

保有機器の主な仕様

溶接ヒュームの観察

[溶接ヒュームの観察]

溶接ヒュームのEDS定性分析結果

[溶接ヒュームのEDS 定性分析結果]


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