(19) X線回折試験

概要

原子が規則的に配列している物質(結晶質のもの)に特性X線を照射すると、測定物が持つ結晶構造(結晶面間隔)に特有な角度で回折を起こします。X線回折装置は、回折したX線の角度やⅩ線強度を測定することによって、結晶構造つまり物質名を調べる装置です。定性分析時の回折位置や積分強度から、リートベルト解析法による物質ごとの定量分析も行うことができます。また、高温下(常用で室温~1300 ℃)での測定も可能です。

適用対象

試験項目

適用例

保有機器の主な仕様

ターゲット
Cu、Co、Cr
試験温度
室温~1500 ℃(常用:1300 ℃まで)
最大定格出力
18 kW (ローターフレックス型)
ゴニオメータ
試料水平型
微小部測定
最小φ400 μm
自動交換アタッチメント
10試料

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